Phenom MAPS 大面積圖像拼接
多模態(tài)多維度地圖式圖像?動采集及拼接軟件
Phenom MAPS 作為?款多模態(tài)多維度地圖式圖像? 動 采 集 及 拼 接 軟 件 ， 可 ? 動 獲 取 ? 型 圖 像 數(shù) 據(jù)集 ， 并直觀地組合和關聯(lián)多種成像 、 分析模式 ， 從
?提供多尺度和多模態(tài)的表征數(shù)據(jù)。
該軟件?持 Phenom 全系列臺式掃描電?顯微鏡型號 ， 包 括 Phenom XL G2 、 Phenom Pharos G2和 Phenom ProX。 歡迎聯(lián)系我們升級體驗。
MAPS 核?功能
Phenom MAPS大面積圖像拼接 軟件提供：
??積?動數(shù)據(jù)采集： 實現(xiàn)?動化?縫全景拼圖和??積 EDS 能譜數(shù)據(jù)采集
CISA 多平臺數(shù)據(jù)關聯(lián)： 光鏡、 拉曼、紅外、XPS ，甚? CAD 或?繪草圖 ，通通可以關聯(lián) 多尺度成像?動化： 軟件提供全?動的?質量、 多尺度成像解決?案
跨平臺設備連接： 不同設備之間可以進?以樣品為中?的數(shù)據(jù)關聯(lián)處理?作
離線數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)管理： MAPS 軟件的離線版本?便您隨時進?數(shù)據(jù)處理并規(guī)劃下?次成像?作
?動數(shù)據(jù)采集
??可以在各種樣本上設置和運?多個圖塊集 ， 實現(xiàn)?動化 、 ??值守的儀器作業(yè) ， 優(yōu)化設 備操作時間 ， 獲取?質量數(shù)據(jù)。
?動數(shù)據(jù)采集技術讓您?需花費數(shù)?時搜索感興趣的區(qū)域 ， 可以快速輕松拍攝??積拼圖的 同時還能夠?動收集選定區(qū)域的?分辨率數(shù)據(jù)。
此外 ， Phenom MAPS 軟件的離線功能可以幫 您 將 數(shù) 據(jù) 從 設 備 中 導 出 并 在 任 意 ? 臺 PC 中 隨 時進?數(shù)據(jù)分析。 您可以在 MAPS 軟件中標注 數(shù)據(jù)并選擇新的區(qū)域進?數(shù)據(jù)采集 。 該軟件還 可以進?多個數(shù)據(jù)集的?視野圖像?動拼接和 導出 ， 提供多種拼接算法和導出選項 ， 可以導 出 RAW、tile TIFF 或 HD 視圖的兼容格式。
應? SEM-EDS 互聯(lián)功能進?材料表征
與傳統(tǒng)技術相? ， Phenom MAPS 軟件可以幫助您更快地獲取低倍率 、 ??積的 EDS 能譜 圖 ， 從?直觀地顯?整個樣品中的元素分布。（以礦物樣品分析為例）
圖2 . MAPS ??積能譜拼圖結果
數(shù)據(jù)收集后 ，通過 Phenom MAPS 軟件進?進?步 的定量 EDS 分析。
圖3 . ?持離線數(shù)據(jù)處理： 將 EDS 數(shù)據(jù)導? Phenom 臺式掃描電鏡的 UI 中
MAPS CISA 多平臺數(shù)據(jù)關聯(lián)
光鏡、 拉曼、 紅外、XPS ， 甚? CAD 或?繪草圖 ， 通通可以關聯(lián)。
下圖案例： 通過 MAPS CISA ， 將 SEM 和 XPS ?分布以及全譜分析的功能相結合 ， 分析多孔 砂粒?的表?組成和形貌。
通 過 結 合 XPS 和 SEM 的 分 析 ， 可 以 精 確 地 將 化 學 信 息 與 顯微 鏡 提 供 的 ? 分 辨 率 結 構 信 息 融合 。 CISA 關聯(lián)?作流程尤其適?于研究電池 、 ?分?材料 、 催化劑和?屬等樣品的材料 研究。
應 ? 案例： 使 ? Phenom MAPS 軟件 分析 傷?敷料中銀的分布
含 銀 的傷 ? 敷 料 是 ? 種 先 進 的 愈 合 技 術 ， 利 ? 銀 的 抗 菌 特 性 來 預防感染。
這 些 敷 料 由 包 括 傷 ? 墊 的 多 層 組 成 ， 傷 ? 墊 含 有 銀 ， 由 吸 收 液 體 的 ? 紡 布 聚 合 物 纖 維 制 成 。 這 些 纖 維 通 過 聚 ? 烯 ? 膜與傷?隔開 ， 防?傷?墊粘在傷?上。
此類敷料的有效性取決于銀的物理和化學特性以及銀在敷 料 中 的 分 布 情 況 。 如 果 銀 離 ? 濃 度 過 ? ， 則 離 ? 可 能 會 從 敷料中釋放出來并導致細胞毒性作? 。
5 . 含銀的傷?墊可防?感染
利??納臺式掃描電鏡的 MAPS 軟件可以創(chuàng)建?分辨率 EDS 圖 ， 顯?銀在傷?敷料中的 分 布 情 況 。 如 下 圖 所 ? ， 銀 （以 粉 紅 ? 顯 ? ） 排 列 在 聚 ? 烯 ? 的 邊 緣 。 這 可 以 表 征 敷 料 的質量及其與銀離?控制釋放的關系。
圖6 . ?縫全景拼圖： ??積 SEM 傷?敷料拼圖穿孔 ?膜后?是聚合物纖維圖7 . ??積 EDS 圖與 MAPS 軟件中??積敷料能 譜拼圖 ，粉?顯?了銀的分布
傳真：
地址：上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5，705 室
版權所有 © 2018 復納科學儀器（上海）有限公司 備案號：滬ICP備12015467號-2 管理登陸 技術支持：化工儀器網(wǎng) GoogleSitemap
